Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und ChemikerSpringer-Verlag, 09.07.2009 - 564 Seiten Das Buch bietet einen umfassenden Überblick über die Anwendungen der Röntgenbeugung in Gebieten wie Werkstofftechnik, Metallurgie, Elektrotechnik, Maschinenbau sowie Mikro- und Nanotechnik. Es vermittelt die nötigen Grundkenntnisse der Röntgenbeugung fundiert und anschaulich. Dabei werden neue Techniken und Auswerteverfahren ebenso dargestellt wie altbekannte Methoden. Das Buch wurde vollständig überarbeitet und aktualisiert. Das Kapitel über spezielle Verfahren wurde neu geschrieben. |
Inhalt
Hardware für die Röntgenbeugung | 95 |
Methoden der Röntgenbeugung | 155 |
Phasenanalyse | 217 |
Zellparameterbestimmung Gitterkonstantenbestimmung | 257 |
Mathematische Beschreibung von Röntgenbeugungsdiagrammen | 273 |
Kristallstrukturanalyse | 295 |
Röntgenographische Spannungsanalyse | 305 |
10Spannungsmessung mit 2DDetektoren | 381 |
Röntgenographische Texturanalyse | 383 |
Bestimmung der Kristallorientierung | 443 |
Untersuchungen an dünnen Schichten | 453 |
Spezielle Verfahren | 487 |
Zusammenfassung | 519 |
| 543 | |
Formelzeichenverzeichnis | 555 |
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Häufige Begriffe und Wortgruppen
Abstand Achse Anordnung Atome Auswertung Berechnung Bereich beschrieben bestimmt Beugung Beugungsdiagramm Beugungsexperimente Beugungspeaks Beugungswinkel Blenden Bragg-Brentano Bragg-Brentano-Anordnung Bravais-Gitter charakteristische dargestellt Dehnungen Detektor dhkl Dicke Diffraktogramm Diffraktometer Eigenspannungen Eindringtiefe Einkristall Einsatz elastischen Elektronen Elementarzelle Energie energiedispersiven entsprechend ergibt erhält ermittelt experimentell Fläche Funktion FWHM gemessenen Gitterpunkte gleich Gleichung Goniometer größer Halbleiterdetektoren Halbwertsbreite hexagonal hohe Indizierung Intensität Interferenz jeweils kleiner Konstanten Körner Korngröße Kristall Kristallgemisch Kristallite kristallographischen Kristallstruktur Kristallstrukturanalyse Kristallsystem kubisch linearen Material Messrichtung Messung Methode Mikrospannungen Millerschen Indizes möglich Monochromator Multilayerspiegel muss Netzebenen Netzebenenabstand Oberfläche Orientierung parallel Parameter PDF-Datei Peaks Phasen Polfiguren Primärstrahl Probe Probenoberfläche Profil Proportionalzählrohr Reflexe reziproken Gitters Richtung Rockingkurve Röntgenbeugung röntgenographische Röntgenröhre Röntgenstrahlung Schicht senkrecht siehe Bild siehe Kapitel sin2 somit Spannungen stark Strahl Strahlung Strukturfaktor Symmetrie Tabelle Textur Texturanalyse Untergrund unterschiedlichen Verfahren verschiedenen verwendet Vielkristalls Wellenlänge Werkstoffe Werte Winkel zeigt Zellparameter zwei