Temperaturabhängigkeit des elektrischen Widerstands von Kupfer bei tiefen Temperaturen: Size-Effekt-induzierte Abweichungen von der Matthiessenschen Regel

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Verlag nicht ermittelbar, 1985 - 131 Seiten

Bibliografische Informationen

TitelTemperaturabhängigkeit des elektrischen Widerstands von Kupfer bei tiefen Temperaturen: Size-Effekt-induzierte Abweichungen von der Matthiessenschen Regel
Autor/inVolker Kuckhermann
VerlagVerlag nicht ermittelbar, 1985
Länge131 Seiten
  
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